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少子壽命測試儀(yi) µPCD/MDP (MDPpro 850+)用於(yu) 單晶矽錠、矽磚和矽晶圓片的生產(chan) 和質量監控。用於(yu) HJT、HIT、TOPcon、雙麵PERC、PERC+太陽能電池、鈣鈦礦等中的矽材料。
更新時間：2025-03-19
產品型號：MDPpro 850+1
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