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开云体育体验PID產(chan) 品便攜式現場PID測試儀(yi)
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便攜式現場PID測試儀(yi) （電位誘發衰減）測試儀(yi) ，適用於(yu) 不同類型和尺寸的晶體(ti) 矽組件，無需拆裝，測試時間在8小時之內(nei) （測量時間將少於(yu) 8小時）。PIDcheck是與(yu) 德國Fraunhofer CSP Halle合作開發的。
更新時間：2025-03-19
產品型號：PID Check
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