原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化，探索材料合成條件；也可以用來探測充放電到某個(ge) 電位下材料隨溫度變換而產(chan) 生的相應的結構變化，這對探討實際電池安全性產(chan) 生的原因之一，即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段；$n科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動力學分析；分析、電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。高分辨薄膜 X 射線衍射儀(yi) 檢測

原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化，探索材料合成條件；也可以用來探測充放電到某個(ge) 電位下材料隨溫度變換而產(chan) 生的相應的結構變化，這對探討實際電池安全性產(chan) 生的原因之一，即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段；科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動力學分析；電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。原位X射線衍射儀(yi) 檢測

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀(yi) ，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以進行雙微焦斑單晶X射線衍射儀(yi) 檢測。

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀(yi) ，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以進行多晶X射線衍射儀(yi) 檢測。

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀(yi) ,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。