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三維X射線顯微鏡(XRM)
D8 X射線衍射儀(yi)
原位X射線衍射儀(yi) 檢測
產(chan) 品分類
相關(guan) 文章
原位X射線衍射儀(yi) 檢測
項目 | 細則 | 收費 | 說明 |
2Theta/Omega、 XRR、GID | 薄膜樣品:每樣品測試不超 過 30 min;掃描時間大於(yu) 30min,延長時間按240 元/30min收費,不足30min 按 30min 計 | / | 1.長時間數據手機(大於(yu) 5h)、複雜樣品等特殊測試,價(jia) 格需麵議; 2.原位測試需提供測試方法 |
高溫測試 | 室溫至 1100℃,包含 2 個(ge) 溫 度點,第二點後, 240元/測 試點 (校外 240 元/測試點) | / | |
中低溫測試 | -180 至 450℃,多溫度點測試 時第三個(ge) 溫度起,以 240 元/ 測試點計,低溫測試液氮另加 30 元/時 | / | |
低溫測試 | 溫度起點低於(yu) -180℃,低至 12K,多溫度點測試時第三個(ge) 溫度起,以 240元/測試點計 | / | |
電池充放電測試 | 變溫範圍:-25℃~+80℃, Peltier 變溫,包含 2 個(ge) 測試 點,第二點後, 240 元/測試點 | / | |
原位電化學測試 | 包含 2 個(ge) 測試點,第二測試點 以後, 240 元/測試點 | / |
原位X射線衍射儀(yi) 檢測.
儀(yi) 器功能特點:
1- 高效的6KW TXS-HE轉靶光源,強度是封閉靶的5倍;
2- 入射光路三光路自動切換係統:粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路;高分辨光路:高分辨毛細管透射、反射、外延薄膜高分辨;
3- 探測器的開口大,適合測試速度快原位;配置準直器後開展二維衍射實時分析,還原原位二維信息;配備的高低溫係統可實時檢測反應中結構的演變過程;
4- 原位充放電、原位電化學附件更是快速準確地追溯揭示了phase transformation過程。
應用範圍:
原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個(ge) 電位下材料隨溫度變換而產(chan) 生的相應的結構變化,這對探討實際電池安全性產(chan) 生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段;
科研支撐
變溫物相分析
變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動力學分析
分析、電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。
產(chan) 業(ye) 支撐
藥物作用機理及動力學分析、藥物理化性質及穩定性分析。
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服務電話:
021-34685181