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產(chan) 品分類
相關(guan) 文章
發射掃描電鏡SEM相關(guan) 檢測
項目 | 細則 | 收費 | 說明 |
僅(jin) 形貌觀察 | 每個(ge) 樣品*20min，超出時間將按照每20min一個(ge) 樣計算；樣限取5張照片/樣 | / | / |
僅(jin) 元素分析測試 | EDS元素分析/分布包括：點分析（限3點）；線分析；麵分析 | / | / |
形貌觀察和元素分析 | SEM每個(ge) 樣品限取5張照片； EDS元素分析/分布包括； 點分析（限3點）； 線分析；麵分析； | / | / |
EBSD | / | / | 製樣收費麵議 |
STEM | / | / | / |
冷台、熱台、WetSTEM原位觀察 | 需要設計試驗方案，價(jia) 格麵議。 | / | / |
鍍金 | 鍍層為(wei) Au 5nm | / | / |
鍍鉑 | 鍍層為(wei) Pt 5nm | / | / |
發射掃描電鏡SEM相關(guan) 檢測
蔡司場發射掃描電子顯微鏡Sigma係列，采用蔡司Gemini鏡筒，具有高品質的成像和優(you) 質的分析能力，可選配備多種探測器，以滿足顆粒物、納米結構、薄膜樣品等各種不同的應用需求。EDS幾何設計可實現高性能的元素分析，無論哪種樣品適用範圍廣，且均可獲得準確且可重複的分析結果。
[ 產(chan) 品特點 ]1. 靈活的探測手段獲取高分辨的圖像2. 智能高效的工作流程3. 高性能的分析係統4. 可擴展拉曼光譜成像5. *的Gemini鏡筒設計-提升光學性能的同時，降低靜電場與(yu) 磁場對樣品的影響
日立掃描電鏡
該分析用掃描電子顯微鏡適合用於(yu) 研究大件，較重，較高的樣品。
▲樣品直徑達300mm。▲可觀察範圍直徑達203mm。▲可對高達110mm的樣品進行觀察和能譜分析。▲通用型接口布局滿足各種分析用途。
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服務電話：
021-34685181
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