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激光拉曼光譜儀(yi)
XploRA™Nano原子力激光拉曼光譜儀(yi)
產(chan) 品分類
相關(guan) 文章
► 原子力激光拉曼光譜儀(yi) 詳細信息:
將AFM的納米量級高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術耦合起來,實現高空間分辨率下物理特性、化學結構測試。
► 產(chan) 品特點:
♦ AFM和拉曼同區域成像
♦ 針尖增強拉曼(TERS)
♦ AFM光杠杆反饋激光自動準直
♦ 可同時提供上方、側(ce) 向耦合光路,均可使用X100高NA物鏡以提高收集效率
♦ 高頻掃描頭,對環境噪聲不敏感
► AFM-拉曼耦聯配置
HORIBA Scientific拉曼技術可與(yu) 掃描探針顯微鏡(SPM)進行耦合,構建一個(ge) 功能強大且靈活的AFM-拉曼平台。研究人員可根據期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀(yi) 器。
所有具備激光掃描技術的配置都可以通過對掃描探針上的激光反射進行快速成像或者根據針尖增強拉曼散射信號對熱點進行成像,因而該配置能夠準確、可靠地將激光定位到SPM探針針尖上。
高通量的光信號收集和檢測硬件保證在快速掃描的同時采集每一點的SPM信號和拉曼光譜。
► 原子力激光拉曼光譜儀(yi) 和針尖增強拉曼散射(TERS)
將您的所有需求集成到一個(ge) 強大的係統中
我們(men) 所提供的完美解決(jue) 方案使用直接光路耦合,對其進行優(you) 化以實現高通量。該平台可以把原子力顯微鏡(AFM)、近場光學技術(SNOM,NSOM)、掃描隧道顯微鏡(STM)和共焦光學光譜儀(yi) (拉曼和熒光成像)耦合到一台多功能的儀(yi) 器中,以實現針尖增強拉曼散射(TERS)或共點測量。
結合納米成像和化學分析
單層、雙層和三層石墨烯的共點AFM和拉曼成像
♦ AFM和其他SPM技術可提供分子級別分辨率下的形貌、力學、熱能、電磁場和近場光學特性。
♦ 共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞(ya) 微米空間分辨率下的詳細化學信息。
♦ 同步測量的*平台,有助於(yu) 您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
♦ 結合高性能和易用性,HORIBA將會(hui) 根據您所選擇的SPM製造商提供一個(ge) 可靠、全功能的解決(jue) 方案
♦ 針尖增強拉曼光譜(TERS)的光學、機械和軟件都是經過優(you) 化設計的,同時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經驗做技術支持,您可以自信地使用這一技術。
一個(ge) 工具多種可能:AFM-拉曼有助於(yu) 您提高效率
♦ 快速找到納米對象
由於(yu) 納米材料具有特殊的化學屬性,拉曼峰信號較強,因此在光學顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進行搜索和定位。在找到樣品後,我們(men) 可以對感興(xing) 趣的位置進行形貌、機械、電學和熱能分析。
♦ 交叉驗證您的數據
拉曼光譜可以證實材料的某些特性,例如前麵研究的石墨烯,AFM形貌的對比度較差而難以確定層厚,拉曼則可以從(cong) 另外一個(ge) 角度去獲得相同的信息,此外拉曼還提供更多有關(guan) 結構和缺陷的信息,此信息隻有具備原子分辨率的AFM才能提供。
♦ 獲得感興(xing) 趣納米結構的化學信息
在表征納米結構時,有時僅(jin) 獲得物理性質是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細的化學成分信息,這是其他SPM傳(chuan) 感器無法實現的。
探索TERS(針尖增強拉曼散射)領域
TERS(或納米拉曼)可以綜合兩(liang) 種技術之優(you) 勢:可獲得空間分辨率低至2nm(一般低至10nm)的化學特異性拉曼光譜成像。該技術可用於(yu) 表征從(cong) 納米管到DNA等各種樣品。
► 多種光學配置HORIBA的AFM-拉曼平台支持多種光學方案:
底部耦聯:針對透明樣品
頂部耦聯:針對共點拉曼或傾(qing) 斜針尖的TERS
側(ce) 向耦聯:測定不透明樣品的TERS的好解決(jue) 方案
可提供多端口和並排配置
掃一掃,關(guan) 注公眾(zhong) 號
服務電話:
021-34685181