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►產(chan) 品介紹
德國弗萊貝格儀(yi) 器的MDPinline ingot(MDP晶錠在線麵掃檢測儀(yi) --進口少子壽命測試)係統是快速多晶矽晶錠電學參數特性測量工具。它是專(zhuan) 為(wei) 高通量工廠的單塊晶錠測試而研發的。每塊晶錠可以在不到一分鍾時間裏測量其四麵。所有的圖譜(壽命,光電導率,電阻率)都可以同時進行測量。
MDPinline ingot(MDP晶錠在線麵掃檢測儀(yi) --進口少子壽命測試)係統包括一個(ge) 數據庫和相關(guan) 的統計數據評估,可自動確定準確的切割位置,以提高成品率。主要用於(yu) 材料質量監控,爐選擇和工藝改進。
►性能
--無接觸、無破壞的半導體(ti) 特性
--少數載流子壽命的檢測能力
--*的靈敏度讓所有隱形缺陷可視化
--自動切割標準定義(yi)
--獲取體(ti) 材料性質的穩態測量
--*自動化的內(nei) 聯集成
--對太陽能級矽錠進行掃描,1mm分辨率
--測量時間:1分鍾內(nei) 完成晶錠的麵掃描,可自動測量所有4個(ge) 麵
Automated determination of cut off criteria
►優(you) 勢
--保持著*光伏晶圓廠多晶矽晶錠在線特性快速檢測的世界記錄。
--在1分鍾內(nei) 完成分辨率大於(yu) 1mm成像掃描測試,同時可完成電導類型轉變的空間分布掃描和電阻率的
--線掃描測試。客戶定義(yi) 的切割標準可以傳(chuan) 輸到晶圓廠數據庫,該數據庫允許對下一代光伏晶圓廠進行*自動化的材料監控。
--對爐料進行質量控製和爐況監測,並進行失效分析。特殊的“underneath the surface”測量技術大大減少了表麵重組造成的數據失真。
►技術參數
掃一掃,關(guan) 注公眾(zhong) 號
服務電話:
021-34685181