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三維X射線顯微鏡(XRM)
弗萊貝格--DDCOM用於(yu) 晶體(ti) 定向測量的桌麵型X射線衍射儀(yi)
產(chan) 品分類
►產(chan) 品介紹
德國弗萊貝格DDCOM(用於(yu) 晶體(ti) 定向測量的桌麵型X射線衍射儀(yi) )主要應用於(yu) 單晶的*晶格取向的確定,其采用Omega掃描方法對樣品進行超高速晶體(ti) 定位測量,可以測定立方晶體(ti) 的任意位置取向,該設備配置了氣冷式X射線管,操作過程無需水冷,適用於(yu) 科學研究及生產(chan) 質量控製。
►技術特點
--確定單晶的*晶格取向
--使用Omega掃描方法的超高速晶體(ti) 定位測量
--立方晶體(ti) 任意未知取向的測定
--特別設計用於(yu) 點陣方向的方位設置和標記
--氣冷式x射線管,無需水冷
--適合於(yu) 研究和生產(chan) 質量控製
所有想要的晶體(ti) 方向參數在5秒內(nei) 一次旋轉中被捕獲
►可測量材料的例子
--立方/任意未知方向:Si, Ge, GaAs, GaP, InP
--立方/特殊取向:Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
--正方:MgF2, TiO2, SrLaAlO4
--六方/三角:SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英),Al2O3(藍寶石),GaPO4, La3Ga5SiO14
--斜方晶係:Mg2SiO4 NdGaO3
--另可根據客戶的要求進一步選料
►DDCOM的應用
平麵方向的標記和測量
--在晶圓片的注入和光刻過程中,需要平麵或凹槽作為(wei) 定位標記。切割過程中,晶片必須正確地對準晶圓片上易於(yu) 切割的晶格麵。因此,檢查平麵或缺口的位置至關(guan) 重要。
--為(wei) 了確定平麵或缺口的位置,就需要測量平麵內(nei) 的部件。由於(yu) Omega掃描法可以在一次測量中確定完整的晶體(ti) 方位,基於(yu) 此,便可以直接識別在平麵方向或檢查方向的單位或缺口。
--DDCOM(用於(yu) 晶體(ti) 定向測量的桌麵型X射線衍射儀(yi) )通過旋轉轉盤,可以將任何平麵方向轉換成用戶的特定位置。在必須定義(yi) 平麵方向的情況下,這可以大大簡化將標記應用到特定平麵方向的過程。
上一個(ge) :弗萊貝格--SDCOM小晶體(ti) 樣品台式X射線單晶定向儀(yi)
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