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Skyscan1272X射線顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構
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X射線顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構——SkyScan 1272 是一台具有革新意義(yi) 的高分辨率三維 X 射線成像係統。單次掃描可獲得多達 2000 張,每張大小為(wei) 209M(14450 x 14450 像素)的超清無損切片,用於(yu) 之後高分辨三維重建。通過*的相襯增強技術,SkyScan1272 對樣品的細節檢測能力(分辨率)高達 350 納米。
X射線顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構——SkyScan 1272的具體(ti) 設備參數如下:
►設備參數
►隔熱陶瓷孔隙結構特征分析
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