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應用範圍:靈活的OEM設備,用於(yu) 多種不同樣品的在線壽命測量:從(cong) 單晶矽到多晶矽錠,從(cong) 生成態晶圓片到不同鍍層或金屬化晶圓的過程控製。標準軟件接口,易於(yu) 連接到許多處理或自動化係統。
MDPlinescan是一個(ge) 易於(yu) 集成的OEM單元,可集成到各種自動化的檢測線。關(guan) 鍵的測量參數是實時的載流子壽命掃描。
樣品通常由測量頭下的傳(chuan) 送帶或機器人係統來輸送。應用實例從(cong) 晶錠到晶圓的檢測,每個(ge) 晶圓的測量速度小於(yu) 一秒。
電池生產(chan) 線上的來料質量檢查是用的一種應用方向,同樣,鈍化和擴散後的工藝質量檢查也能用到此款產(chan) 品。
還有許多其他的專(zhuan) 門應用可能性。由於(yu) 其易於(yu) 集成,隻需要以太網連接和電源。
允許單片調查
配方的基礎測量
監控材料質量、工藝的完整性和穩定性
優(you) 勢
在μ-PCD或穩態激發條件下測量少數載流子壽命和電阻率是這個(ge) 工具的重點。
用於(yu) 集成在生產(chan) 線的多晶或單晶矽晶圓在不同的準備階段,直到設備,磚或錠。
小尺寸和標準的自動化接口使集成變得容易。重點是長時間的可靠性和測量結果的精度。
樣品 | 多晶或單晶晶圓原料, 晶錠,晶胞 |
樣品尺寸 | 大約50 x 50 mm2 |
電阻率 | 0.2 - 103 Ohm cm |
conduction type | p, n |
材質 | 矽晶圓,部分或*加工的晶圓,複合半導體(ti) 等 |
測量屬性 | 載流子壽命 |
硬件接口 | ethernet |
大小 | 174 x 107 x 205 mm, 重量t: 3 kg |
電源 | 24 V DC, 2 A |
掃一掃,關(guan) 注公眾(zhong) 號
服務電話:
021-34685181