少子壽命測試儀(yi) µPCD/MDP (MDPpro 850+)用於(yu) 單晶矽錠、矽磚和矽晶圓片的生產(chan) 和質量監控。用於(yu) HJT、HIT、TOPcon、雙麵PERC、PERC+太陽能電池、鈣鈦礦等中的矽材料。

MDPmap單晶和多晶矽片壽命測量儀(yi) 被設計成一個(ge) 緊湊的台式非接觸電學表征工具，用於(yu) 離線生產(chan) 控製或研發，在穩態或短脈衝(chong) 激勵（μ-PCD）下，在一個(ge) 寬的注入範圍內(nei) 測量參數，如載流子壽命、光導率、電阻率和缺陷信息。自動化的樣品識別和參數設置允許輕鬆適應各種不同的樣品，包括外延層和經過不同製備階段的晶圓，從(cong) 原生晶圓到高達95%的金屬化晶圓。

MDPlinescan在線少子壽命測試儀(yi) 靈活的OEM少子壽命測試儀(yi) 器，用於(yu) 各種不同樣品的少子壽命測量，從(cong) 單晶矽磚到多晶矽磚，從(cong) 生長的矽片到不同層或金屬化的矽片的過程控製。標準的軟件接口，便於(yu) 連接到許多處理或自動化係統。

MDPspot少子壽命測試儀(yi) 低成本桌麵單點測量矽片或晶磚，用於(yu) 在不同製備階段表征各種不同的矽樣品，無需內(nei) 置自動化。可選手動操作的z軸厚度高達156毫米的矽磚樣品，高達156毫米矽磚，結果可視化的標準軟件。

弗萊貝格的MDPpro（MDPpro晶圓片/晶錠壽命檢測儀(yi) --少子壽命）係列主要用於(yu) 測量少子壽命、光電導率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查等，其非接觸式檢測和無損成像（μPCD /MDP（QSS））的設計*符合SEMI標準PV9-1110。這也使得該儀(yi) 器在晶圓切割、爐內(nei) 監控和材料優(you) 化等領域被廣泛應用。可以說，MDPpro是晶錠生產(chan) 商以及晶體(ti) 爐技術生產(chan) 商d的標準儀(yi) 器。

MDPmap（MDPmap晶圓片壽命檢測儀(yi) --少子壽命測試）是一個(ge) 緊湊的離線台式檢測設備，主要被設計用於(yu) 生產(chan) 控製或研發、測量少子壽命、光電導率、電阻率和缺陷信息等參數。其工作狀態為(wei) 穩態或短脈衝(chong) 激勵下（μ-PCD）。