德國弗萊貝格MDPinlinescan（MDP在線晶圓片/晶錠點掃或麵掃檢測儀(yi) ）是一款靈活的OEM設備，可以用於(yu) 多種不同樣品的在線壽命測量：從(cong) 單晶到多晶矽錠，從(cong) 生成態晶圓片到不同鍍層或金屬化晶圓的過程控製。配置標準軟件接口，易於(yu) 連接到許多處理或自動化係統。

MDPinline（MDP高速晶圓片在線麵檢測儀(yi) --少子壽命檢測）是一種用於(yu) 快速定量測量載流子壽命並集成掃描功能的檢測儀(yi) 。通過工廠安裝的傳(chuan) 送帶將晶圓片移至儀(yi) 器，在不到一秒的時間內(nei) ，就可以“動態”測量出晶圓圖。該儀(yi) 器可為(wei) 每個(ge) 晶圓片提供完整的拓撲結構，有效提高了生產(chan) 線的成本效益和效率。且其實時質量檢測可以提高和優(you) 化諸如擴散和鈍化等處理步驟。

德國弗萊貝格儀(yi) 器的MDPinline ingot（MDP晶錠在線麵掃檢測儀(yi) --進口少子壽命測試）係統是快速多晶矽晶錠電學參數特性測量工具。它是專(zhuan) 為(wei) 高通量工廠的單塊晶錠測試而研發的。每塊晶錠可以在不到一分鍾時間裏測量其四麵。所有的圖譜（壽命，光電導率，電阻率）都可以同時進行測量。

德國Freiberg Instruments的MDPicts（MDP微波探測光誘導電流瞬態譜儀(yi) --少子壽命），非接觸且無損傷(shang) ，用於(yu) 溫度依賴的少數載流子壽命測量以及半導體(ti) 的界麵陷阱和體(ti) 陷阱能級的電性能表征。MDpicts將在半導體(ti) 材料的基礎研究與(yu) 開發領域取得廣泛的應用。

台式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導退化測試儀(yi) ，用於(yu) c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝後質量檢測。

晶圓片晶錠壽命檢測儀(yi) 用於(yu) 常規質量控製、精密材料研發的單晶和多晶片及晶錠的壽命測量