ADEPT-1010 專(zhuan) 為(wei) 淺層半導體(ti) 注入和絕緣薄膜的自動分析而設計，是大 多數半導體(ti) 開發和支持實驗室的常用工具。通過優(you) 化的二次離子收集光學係統 和超高真空設計，提供了薄膜結構檢測中的摻雜組分和常見雜質所需的靈敏度。

PHI nanoTOF IITM飛行時間質譜儀(yi) 是第五代SIMS儀(yi) 器，該儀(yi) 器具有*的飛行時間（TOF）分析儀(yi) ，它擁有市場上TOF-SIMS儀(yi) 器中大的角度和能量接收範圍，它使用了具有優(you) 良離子傳(chuan) 輸能力的三級聚焦半球形靜電分析器，實現了高空間分辨率和質量分辨率。PHI nanoTOF IITM還具有很高的成像能力，可以表征形貌複雜的樣品而沒有陰影效應。

Isoprime係列穩定同位素質譜儀(yi) 定位於(yu) 滿足世界上非常的科學家和技術人員，提供同位素質譜應用方麵*，*和切合實際的解決(jue) 方案。IsoPrime在元素分析，氣相色譜和頂空氣體(ti) 分析方麵有著顯著優(you) 勢，能在任何應用領域提供的性能表現。Isoprime同位素質譜是地質科學，環境科學，醫學和食品認證等領域專(zhuan) 家的*。Isoprime的起源可追溯到七十年代初。曆經八十年代及九十年代，