技術文章

TECHNICAL ARTICLES

當前位置:首頁技術文章MDP 技術-矽錠質量評估的 “透視眼”

MDP 技術-矽錠質量評估的 “透視眼”

更新時間:2025-03-04點擊次數:190

MDP 技術-錠質量評估的透視眼"

在光伏生產(chan) 鏈中,矽錠材料質量評估對晶體(ti) 生長者優(you) 化結晶過程、電池、芯片製造商篩選材料以降本增效極為(wei) 重要。傳(chuan) 統依賴最終效率的反饋方式存在諸多不足,MDP技術則為(wei) 早期質量評估提供了新途徑。

Freiberg Instruments相關(guan) 技術或設備助力實現用MDP技術在矽磚四個(ge) 側(ce) 麵以1mm分辨率測量空間壽命和電阻率圖像。這種測量具有非接觸、可在線操作且無需校準的優(you) 勢。MDP技術能夠晶錠的空間分辨載流子壽命和電阻率進行測量,其測量過程為(wei) 非接觸式,可在生產(chan) 線上實時操作,且無需額外校準。這一特性使得測量過程簡便高效,避免了因接觸測量帶來的誤差和對矽磚的損傷(shang) ,同時能及時獲取大量數據,為(wei) 後續分析提供充足依據。

其次可以反映材料本質特性:矽磚可視為(wei) 一種半無限表麵樣品,其MDP壽命測量受表麵複合影響較小,能精準反映材料的實際體(ti) 壽命。這一優(you) 勢是其他測量方式難以企及的,通過MDP測量得到的體(ti) 壽命數據,與(yu) 產(chan) 品的最終性能緊密相關(guan) ,是評估材料質量的關(guan) 鍵指標(如圖1

MDP 技術-矽錠質量評估的 “透視眼

1晶錠a側(ce) 、(b側(ce) 、(c側(ce) 和(d側(ce) 的壽命測量結果

從(cong) 測量圖像中提取受汙染區域麵積分數、壽命(針對邊緣角落矽磚提出加權調和平均計算方法)、電阻率和位錯等特征。其中,利用Freiberg Instruments參與(yu) 相關(guan) 研發的MDP技術獲取的高質量測量數據,為(wei) 準確提取這些特征奠定基礎。例如,通過其設備精準測量的壽命數據,能更合理地計算加權調和平均值(如圖2

MDP 技術-矽錠質量評估的 “透視眼

2 展示了從(cong) 兩(liang) 塊在不同區域裁剪的矽磚的 MDP 壽命圖像中檢測到的位錯情況。如上圖所示,即使在對比度不變的區域,位錯檢測也很可靠。

模型構建:以提取的特征和太陽能電池短路電流值為(wei) 輸入,采用回歸增強隨機森林(RERF)模型預測太陽能電池開路電壓。這一過程中,MDP測量的精準數據保證了模型訓練的可靠性,Freiberg Instruments的技術支持使得數據的準確性和穩定性得以保障(如圖3

MDP 技術-矽錠質量評估的 “透視眼

3:四塊不同材料質量晶錠的開路電壓(Voc

使用來自19塊不同位置HPMCM矽磚製成的約1200個(ge) 工業(ye) Al - BSF太陽能電池構建數據集,涵蓋不同坩堝尺寸和矽錠高度。實驗中使用的MDP測量設備與(yu) Freiberg Instruments緊密相關(guan) ,確保了數據采集的全麵性和準確性。

MDP 技術-矽錠質量評估的 “透視眼

4:比較來自不同錠的兩(liang) 個(ge) 中的測量值(實心)和預測值(空心Voc值與(yu) 磚高度的關(guan) 係。

模型評估:對不同材料類別分別開發預測模型並優(you) 化參數,通過留一法進行盲測評估模型準確率(如圖4。得益於(yu) Freiberg Instruments的技術支持,MDP測量數據的高質量使得模型評估結果更可靠。

模型對HPMCM矽磚開路電壓預測平均絕對誤差分別為(wei) 3.06mV4.85mV;加權調和平均壽命提升了預測精度;模型能有效區分不同質量矽磚,但對缺陷分布不均材料預測精度受限。

本研究借助MDP技術成功實現了矽錠的早期質量評估,為(wei) 光伏產(chan) 業(ye) 優(you) 化生產(chan) 流程、提高生產(chan) 效率和產(chan) 品質量提供了可靠的技術手段。未來,MDP技術有望在更多材料和工藝中得到應用,進一步推動光伏產(chan) 業(ye) 的發展。Freiberg Instruments的技術或設備在其中發揮了作用,為(wei) 光伏產(chan) 業(ye) 早期評估矽錠質量提供了可靠手段,有助於(yu) 優(you) 化生產(chan) 流程、提升產(chan) 業(ye) 效益。未來可進一步探索該技術在不同材料和工藝中的應用。

該文章翻譯於(yu) Fraunhofer Institute for Solar Energy SystemsFreiberg Instruments等機構共同研究的工作。本文發表於(yu) 37th European PV Solar Energy Conference and Exhibition中,詳情可查閱:EARLY STAGE QUALITY ASSESSMENT IN SILICON INGOTS FROM MDP BRICKCHARACTERIZATION.



掃一掃,關(guan) 注公眾(zhong) 號

服務電話:

021-34685181 上海市鬆江區千帆路288弄G60科創雲廊3號樓602室 wei.zhu@shuyunsh.com
Copyright © 2025开云体育体彩 All Rights Reserved  
技術支持:    sitemap.xml