弗萊貝格PIDcon bifacial｜雙麵電池的可逆與不可逆PID快速測試解決方案

論文來源：K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells

部分摘要：

      雙麵 PERC 電池背麵PID會(hui) 導致嚴(yan) 重的功率損失。與(yu) 單麵 PERC 太陽能電池相比，可以發生可逆的去極化相關(guan) 電位誘導衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導衰退（PID-c）。研究表明，一個(ge) 可靠的評估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進的 PID 測試方法，需要在高壓測試上附加光照。此外，還需要在測試方案中加入恢複步驟來將可逆 PID-p 與(yu) 不可逆 PID-c 造成損傷(shang) 的區分開來。退化程度和 PID-p 和 PIC-c 的貢獻敏感地依賴於(yu) 所研究的太陽能電池。因此，在雙麵 PERC 電池的 PID 測試方案中需包括 PID 高壓期間的附加光照和恢複步驟。

相對於(yu) 每個(ge) 單獨模塊的初始狀態，背麵Isc 值的變化情況

       比較 1 個(ge) 太陽和0.1 個(ge) 太陽的 I–V 測量，可以觀察到，這兩(liang) 種方法之間有很強的數量相關(guan) 性。觀察到的參數變化與(yu) 用於(yu) I–V 測量的光照強度無關(guan) 。

      采用 0.1 太陽光源的測試裝置可同樣適用於(yu) PID 階段和表征階段。A （優(you) 化電池）模塊和 S（標準電池） 模塊之間的另一個(ge) 明顯區別是恢複行為(wei) 。對於(yu) A 模塊，Isc 值在恢複步驟中幾乎恢複（上圖右中的黑色和紅色條）。這意味著，所觀察到的 A 模塊背麵的衰退大部分是可逆的，因此與(yu) PID-p 有關(guan) 。與(yu) 此相反，S 模塊在恢複階段隻顯示很小的 Isc 參數的變化。因此，在這種情況下，PID 幾乎是不可逆的，與(yu) PID-c 有關(guan) 。

      綜上所述，電位誘導衰退（PID）對雙麵太陽能電池的背麵有很大的影響。有兩(liang) 種不同的PID 機製， 可逆極化相關(guan) PID-p 和不可逆腐蝕相關(guan) PID-c。一個(ge) PID測試與(yu) 4小時總測試時間適合於(yu) 評估微型模塊的背麵PID靈敏度以及區分可逆PID- p 和不可逆 PID-c。

      PID 測試流程需要滿足兩(liang) 個(ge) 條件：首先，測試過程同時需要實施光照，以防止 PID 結果的過高或過低估計。第二，需要一個(ge) 恢複步驟來區分 PID-c 和 PID-p。雖然 PID-p 敏感單元可以通過在光伏電站施加反向電壓來恢複，對 PID-c 敏感的太陽能電池將遭受永遠不可逆的功率損失。因此，我們(men) 需要一種能夠測試雙麵電池PID的相應設備，結合所需的高壓測試條件和原位 PID 的跟蹤技術，滿足以上各種實驗條件的需求。

更多文獻信息，請查閱：

K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells

https://www.sciencedirect。。ｃｏｍ/science/article/abs/pii/S0927024820303548?via=ihub

弗萊貝格儀(yi) 器與(yu) 德國Fraunhofer CSP公司合作開發了一種可作為(wei) 商業(ye) 應用的台式太陽能電池和微型模塊的電勢誘導衰退控製的測量解決(jue) 方案（PIDcon bifacial）。

台式雙麵電池PID測試儀(yi) ：

●   根據IEC 62804-TS標準方法
●   易於(yu) 使用的台式設備
●   夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊
●   無需氣候室
●   不需要電池層壓
●   測量速度：4小時(一般)
●   可測量參數：分流電阻、功率損失、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
●   太陽能電池可以通過EL等進行研究
●   基於(yu) IP的係統支持在世界任何地方進行遠程操作和技術支持