XRD應用分享 | 微區XRD（μ-XRD）

引言

對於(yu) 塊狀樣品的XRD測試，往往是把塊狀樣品研磨成各向同性的粉末狀態，再利用發散的線狀X射線（布拉格-布倫(lun) 塔諾幾何）對樣品進行測試分析。但是有些塊狀樣品研磨成粉末是不現實的，比如稀有的塊體(ti) 樣品，或是鑲嵌在基體(ti) 上的某個(ge) 微小區域，又或者希望研究某個(ge) 塊狀樣品上物相的空間分部等等。微區XRD分析技術為(wei) 此類樣品提供了有力工具，能夠分析原始狀態的樣品，對樣品的各個(ge) 部分進行物相分析。

本文以地質樣品天青石為(wei) 例進一步說明微區衍射的作用。以下文中的數據是在德國布魯克公司D8 ADVANCE型號衍射儀(yi) 上采集。該衍射儀(yi) 配置全維度探測器，除了可以做常規的XRD為(wei) ，還可以是實現二維衍射。

常規XRD測試（布拉格-布倫(lun) 塔諾幾何）

通常情況下礦物標本是使用布拉格-布倫(lun) 塔諾幾何測量的。 使用線光斑和一維探測器的布拉格-布倫(lun) 塔諾幾何（圖2）收集了岩板的大麵積掃描圖譜（圖 1，綠色框）。 在測量過程中，樣品以 phi 為(wei) 單位旋轉。 來自基質的石英在衍射圖案中占主導地位，並且還可以識別出痕量的水鋁石和黃鐵礦。但與(yu) 天青石相關(guan) 的相卻不存在。 常規XRD測試適用於(yu) 粉末樣品，但原位樣品的精細細節可能會(hui) 在噪音中丟(diu) 失，就像本例中的天青石晶體(ti) 一樣。

 圖1 布拉格-布倫(lun) 塔諾幾何數據是從(cong) 綠色方塊指示的區域收集的。 

從(cong) 紅色和藍色斑點表示的兩(liang) 個(ge) 區域收集微區衍射數據。

圖2 布拉格-布倫(lun) 塔諾幾何中的廣域掃描圖（插圖示意圖）。 

由於(yu) 照射麵積大，衍射信號以基質為(wei) 主，主要是石英， 還鑒定出痕量的方沸石和黃鐵礦 

圖 3 微區衍射儀(yi) 2D 圖譜。

天青石斑晶（頂部，紅色框）和石英岩基質（底部，藍色框）的微衍射。

天青石2D圖中的衍射斑點表明有大晶粒，而連續的衍射環表示細晶粒，兩(liang) 種晶粒共存。

微區衍射測試

2D 微區衍射用來更好地表征天青石的結構。采用 0.5 mm 點光斑和 EIGER2 探測器2D 模式，原位測量天青石晶體(ti) 和石英岩基質（圖 1，紅色和藍色圓圈）（圖 3）。 在測量過程中，樣品以 3rpm 的 phi 轉速旋轉，並以 psi 從(cong) 0° 到 35°（偽(wei) Gandolfifi）振蕩以獲取更多反射。 微區衍射證實基質主要是細粒石英（藍色圓圈），而天青石晶體(ti) （紅色圓圈）包含多晶水鋁石、偏水鋁石和石膏的共生體(ti) （圖 4）。 

圖4  微區衍射2D圖譜做方位積分後得到的一維XRD圖譜。

基體(ti) 數據（藍色）主要是石英，來自天青石包裹體(ti) （紅色）的數據顯示了多種礦物相。

總結

藍色天青石晶體(ti) 含有小的多晶礦物包裹體(ti) ，如水鋁沸石、偏沸石、石英和石膏。微區衍射可用於(yu) 研究原位岩板和薄片的較小感興(xing) 趣區域。 通過利用樣品的旋轉和傾(qing) 斜，可以將樣品保持在原始狀態，同時從(cong) 小區域收集高質量的粉末衍射數據。 EIGER2 探測器能夠從(cong) 1D 到 2D 幾何結構無縫轉換，從(cong) 而輕鬆收集傳(chuan) 統粉末掃描和微區衍射數據。

1. * 本文引自布魯克公司應用報告XRD 616: μXRD in Geology with EIGER2 R 500K