X射線衍射儀｜特殊樣品製備和擇優取向消除（附視頻）

更新時間：2023-11-15

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視頻講解：

何為(wei) 擇優(you) 取向？

在一般多晶體(ti) 中，每個(ge) 晶粒有不同於(yu) 鄰晶的結晶學取向，從(cong) 整體(ti) 看，所有晶粒的取向是任意分布的；某些情況下，晶體(ti) 的晶粒在不同程度上圍繞某些特殊的取向排列，就稱為(wei) 擇優(you) 取向或簡稱織構。

這裏有個(ge) 案例，四氯間苯二甲睛的PDF卡片數據通過與(yu) 一個(ge) 製備不當的樣品數據做對比，我們(men) 會(hui) 發現，樣品在400晶麵會(hui) 有高達2,000多強度的差異：

透射樣品架製備方法

透射樣品架主要是用於(yu) 一些擇優(you) 取向較為(wei) 嚴(yan) 重的樣品，首先用拆解器將樣品上方的密封環拆解下來，然後將Kapton膜的一端放在樣品架上方，並把樣品平攤在樣品架中間，將Kapton膜的另一端蓋上用密封環將樣品架蓋上並鎖死，用剪刀將多餘(yu) 的Kapton膜剪掉，這樣透射樣品架就製備完成了。

防潮解防揮發樣品架製備方法

通常針對於(yu) 一些易揮發易潮解的樣品，首先通過樣品拆解器將樣品架上麵的塑料給拆開來，然後將樣品倒於(yu) 樣品架中間，用毛玻璃將樣品壓平，接著在表麵覆蓋一層Kapton膜，將上麵的塑料把它蓋住，再用剪刀將表麵的Kapton膜給剪去，這樣防潮解防揮發樣品架就製備完成了。

單晶矽樣品架製備方法

單晶矽樣品架用於(yu) 一些少量樣品的測量，通常可以測幾十毫克，甚至於(yu) 幾毫克的樣品，首先我們(men) 將樣品置於(yu) 樣品架中間，輕輕地用測量紙按壓，將樣品壓平，如果你沒有辦法將樣品壓平，可以用毛玻璃片輕輕地按壓，特別需要注意，樣品不能按壓過重，否則會(hui) 出現擇優(you) 取向的情況，這就是單晶矽樣品架的製備全過程。

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